臺(tái)式掃描電子顯微鏡包括電子發(fā)射系統(tǒng)、電磁透鏡系統(tǒng)、信號(hào)探測系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)。電子發(fā)射系統(tǒng)用于產(chǎn)生高能電子束；電磁透鏡系統(tǒng)對電子束進(jìn)行聚焦和偏轉(zhuǎn)，以控制其在樣品表面的掃描路徑；信號(hào)探測系統(tǒng)負(fù)責(zé)檢測從樣品表面激發(fā)出的二次電子、背散射電子等信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；真空系統(tǒng)為電子束的傳輸和樣品表面的分析提供必要的真空環(huán)境；計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)則對整個(gè)儀器的操作進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)處理。
臺(tái)式掃描電子顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域：
-材料科學(xué)：可用于觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸、孔隙分布等，幫助研究人員了解材料的性能和特性，為新材料的研發(fā)提供依據(jù)。
-生物學(xué)和醫(yī)學(xué)：在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，可用于觀察細(xì)胞、細(xì)菌、病毒等生物樣本的形態(tài)和結(jié)構(gòu)，以及生物組織的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，對于疾病診斷、藥物研發(fā)等方面具有重要意義。
-電子工業(yè)：用于檢查電子元器件的表面缺陷、焊接質(zhì)量、芯片內(nèi)部的電路結(jié)構(gòu)等，確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
-地質(zhì)學(xué)：可用于觀察巖石、礦物的微觀結(jié)構(gòu)和組成，幫助地質(zhì)學(xué)家了解地球的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和演化過程。
臺(tái)式掃描電子顯微鏡的測定步驟：
1.樣品制備：
-將分散好的樣品滴于銅片上，干燥后將載有樣品的銅片粘在樣品座上的導(dǎo)電膠帶上(對于大顆粒樣品可直接將樣品粘在導(dǎo)電膠帶上)。
-對于導(dǎo)電性不好的樣品必須蒸鍍導(dǎo)電層，通常為蒸金。將樣品座置于蒸金室中，合上蓋子，打開通氣閥門，對蒸金室進(jìn)行抽真空。選擇好適當(dāng)?shù)恼艚饡r(shí)間，達(dá)到真空度定好時(shí)間后加電壓并開始計(jì)時(shí)，保持電流值，時(shí)間到后關(guān)閉電壓，關(guān)閉儀器。取出樣品時(shí)，需先關(guān)閉通氣閥門以防液體倒流。
2.電鏡準(zhǔn)備：
-打開電源并等待設(shè)備預(yù)熱，直到設(shè)備達(dá)到穩(wěn)定的工作溫度。
-啟動(dòng)控制軟件，如Igor Pro或其他SEM軟件?？刂栖浖遣僮鲯呙桦婄R的關(guān)鍵，它能夠控制電子束的掃描、調(diào)整成像參數(shù)、捕獲圖像和數(shù)據(jù)等。
-檢查系統(tǒng)狀態(tài)，確保所有零部件正常工作，包括檢查真空泵、電子槍、探測器等。
3.樣品加載與觀察：
-點(diǎn)擊Vent放氣后緩慢打開樣品室，將樣品用導(dǎo)電膠固定在載物臺(tái)上。為了能在電鏡下快速準(zhǔn)確地找到樣品的像，可提前對樣品進(jìn)行標(biāo)記。
-調(diào)整樣品的位置，長按鼠標(biāo)中鍵即顯示指向箭頭，向上拖動(dòng)箭頭升高樣品臺(tái)至10mm處，點(diǎn)擊屏幕右側(cè)coordinates將Z軸鎖死。
-調(diào)整粗/微調(diào)旋鈕進(jìn)行調(diào)焦，直到觀察到的圖像清晰為止。
-調(diào)整載物臺(tái)位置，找到要觀察的視野，進(jìn)行分析。
4.圖像采集與分析：
-根據(jù)需要調(diào)整放大倍數(shù)、加速電壓等參數(shù)，以獲得清晰的圖像。
-使用控制軟件捕獲圖像和數(shù)據(jù)，并進(jìn)行必要的分析和處理。
