高倍光學(xué)電子顯微鏡
更新時(shí)間：2016-05-11 點(diǎn)擊量：4314
高倍光學(xué)電子顯微鏡
飛 納熒光掃描電鏡一體機(jī) Delphi（德飛），是飛納掃描電鏡制造商荷蘭 Phenom world 公司與熒光顯微鏡制造商荷蘭 Delmic 于 2014 年聯(lián)合推出的*款將熒光顯微鏡和掃描電鏡高度集成在一起的設(shè)備。借助該設(shè)備，用戶可把光學(xué)顯微鏡所包含的豐富信息和掃描電鏡所*的超高分辨率 結(jié)合在一起，觀察研究樣品納米尺度范圍的動(dòng)態(tài)過(guò)程，定位細(xì)胞和有機(jī)體中所發(fā)生的特定事件。通過(guò)在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像，實(shí)現(xiàn)在一張圖像中同時(shí)得 到樣品精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的信息。簡(jiǎn)單地說(shuō)，Delphi（德飛） 就是底部裝有熒光顯微鏡的飛納掃描電鏡。
高倍光學(xué)電子顯微鏡優(yōu)勢(shì)：
熒 光顯微鏡和掃描電鏡結(jié)合使用的難點(diǎn)在于樣品觀察點(diǎn)定位，準(zhǔn)確的定位才能提供的疊加照片。德飛（Delphi）使用圖像無(wú)縫切換技術(shù)，*次成功解決了 這個(gè)難題。該系統(tǒng)繼承了飛納臺(tái)式掃描電鏡體積小，對(duì)環(huán)境無(wú)要求的優(yōu)點(diǎn)，可放置在普通實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中；德飛（Delphi）精密的機(jī)械設(shè)計(jì)結(jié)合電子束自動(dòng) 校準(zhǔn)技術(shù)，使用者只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)就能得到非常的熒光和電子的重疊圖像，德飛（Delphi）是熒光和掃描電鏡世界之間的*橋梁。
高倍光學(xué)電子顯微鏡主要優(yōu)勢(shì)如下：
需在電鏡和光鏡之間對(duì)樣品進(jìn)行轉(zhuǎn)移，便可對(duì)同一位置點(diǎn)獲取熒光和電鏡圖像。
圖像自動(dòng)重疊技術(shù)，無(wú)需人工校準(zhǔn)就能得到熒光和電鏡疊加照片，疊加精度50nm。
使用熒光掃描電鏡一體機(jī)，得到細(xì)胞表面物質(zhì)精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的相關(guān)照片。
高度集成的軟硬件，一個(gè)軟件界面控制熒光和電鏡操作。
非常容易使用，一分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)樣品裝載并得到熒光電鏡關(guān)聯(lián)照片。
無(wú)需特殊安裝環(huán)境 ,繼承了大部分飛納臺(tái)式掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)。
